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    TASLimage固體徑跡蝕刻測量系統
    產品簡介

    TASLimage固體徑跡蝕刻測量系統適用于中子測量、氡濃度監測、聚變研究、α粒子放射自顯影、鈾礦勘探、宇宙射線以及放射領域教學。

    產品型號:
    更新時間:2025-08-19
    廠商性質:經銷商
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    TASLimage固體徑跡蝕刻測量系統TASLimage是基于核徑跡分析技術發展的高性能全自動圖像測量及分析系統,用于測量及分析各類塑料徑跡探測器,例如TASTRAK(TASL公司生產)、CR39、PN3。系統的顯微鏡模塊采用了高質量Nikon光學器件和超快3D機動控制系統,保證了系統的高測量效率、高精度及低本底等優異性能。系統適用于中子測量、氡濃度監測、聚變研究、α粒子放射自顯影、鈾礦勘探、宇宙射線以及放射領域教學。


    TASLimage固體徑跡蝕刻測量系統特點:

    1. 全自動聚焦,全自動掃描點碼和蝕刻徑跡;

    2. 全自動測讀批量探測器;

    3. 快速測讀,測讀時間為30~60秒(與參數設置相關);

    4. 自動修正探測器響應衰退,保證探測器可用于12個月的長期監測;

    5. 高度精密的圖像分析技術,可區分徑跡與本底特征;

    6. 全自動本底評估(對每個探測器);

    7. 掃描數據自動轉換為中子劑量/氡濃度;

    8. 數據可導出excel文件。


    ?技術指標:

    TASLimage固體徑跡蝕刻測量系統

    TASLimage固體徑跡蝕刻測量系統

      TASLimage軟件界面

    TASLimage固體徑跡蝕刻測量系統

      TASTRAK核徑跡探測器



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